维普中文期刊产品整合服务
意见 帮助
基本检索 作者索引 机构索引 期刊索引
  • 哲学宗教
  • 社会学
  • 政治法律
  • 军事
  • 经济管理
  • 文化科学
  • 语言文字
  • 文学
  • 艺术
  • 历史地理
  • 自然科学总论
  • 理学
  • 天文地球
  • 生物学
  • 医药卫生
  • 农业科学
  • 一般工业技术
  • 矿业工程
  • 石油与天然气工程
  • 冶金工程
  • 金属学及工艺
  • 机械工程
  • 兵器科学与技术
  • 动力工程及工程热...
  • 核科学技术
  • 电气工程
  • 电子电信
  • 自动化与计算机技术
  • 化学工程
  • 轻工技术与工程
  • 建筑科学
  • 水利工程
  • 交通运输工程
  • 航空宇航科学技术
  • 环境科学与工程
时间 1989 - 2010 学科选择学科
题名/关键词 模糊
与 题名/关键词 模糊
重新搜索 在结果中搜索
17篇 您的检索式：作者名="GIESSIBL F J"
选中 清除  导出 查看参考文献 查看引证文献 引用追踪 共1页 首页 上一页 第1页 下一页 末页 /1 跳转
    题名 作者 年代 出处 被引量
1Advances in atomic force microscopy显示文摘Giessibl F J 2003Review of Modern Physics2003，75，3：1
2Advances in atomic force microscopy 显示文摘Giessibl F J 2003Rev Mod Phys2003，75，：1
3Advances in atomic force microscopy显示文摘GIESSIBL F J 2003Reviews of Modern Physics2003，75，：1
4Atomic resolution of the silicon (111) - (7x7) surface by atomic force microscopy 显示文摘GIESSIBL F J 1995Science1995，267，5194：1
5Advances in Atomic Force Microscopy 显示文摘GIESSIBL F J 2003Reviews of Modem Physics2003，75，3：1
6Advances in atomic force microscopy 显示文摘GIESSIBL F J 2003Rev Mod Phys2003，75，3：1
7Subatomic features on the silicon (111)-(7x7) surface observed by atomic force microscopy显示文摘GIESSIBL F J HEMBACHER S BIELEFELDT H 2000Science2000，289，：1
8Subatomic features in atomic force microscopy images显示文摘GIESSIBL F J HEMBACHER S BIELEFELDT H 2001Science2001，291，：1
9Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy显示文摘F J Giessibl 1995Science1995，267，：1
10Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum显示文摘Giessibl F J Trafas B M 1994Rev Sci Instrum1994，65，6：1
11Atomic resolution of the silicon (111)-(77) surface by atomic force microscopy显示文摘Giessibl F J 1995Science1995，267，5194：1
12Advances in atomic force microscopy显示文摘Giessible F J 2003Rev Mod Phys2003，75，：1
13Atomic resolution of the silicon (111)-(7x7) surface by atomic force microscopy显示文摘GIESSIBL F J 1995Science1995，267，：1
14Force microscopy with light-Atom probes显示文摘HEMBACHER S GIESSIBL F J MANNHART J 2004Science2004，305，：1
15Revealing the angular symmetry of chemical bonds by atomic force microscopy 显示文摘Welker J Giessibl F J 2012Science2012，336，6080：1
16Advances in atomic force microscopy显示文摘Giessibl F J 2003Rev Mod Phys2003，75，3：1
17Advances of atomic force microscopy显示文摘GIESSIBL F J 2003Reviews of Modem Physics2003，75，3：1
返回顶部 每页显示：
共1页 首页 上一页 第1页 下一页 末页 /1 跳转
goolge学术搜索-维普

网站首页 | 关于我们 | 联系我们 | 产品服务 | 客服中心 | 广告服务 | 版权声明 | 网站联盟 | 友情链接 | 售卡网点

版权所有© 渝B2-20050021-1　渝公网安备 50019002500403号　违法和不良信息举报中心

互联网出版许可证 新出网证(渝)字10号 全国400电话 - 免长途话费